电子显微镜

运动电子具有与动量相关的波长，适当能量下可远短于可见光。电磁场能够控制电子束并构成电子透镜，支持高分辨成像。实际分辨率还受透镜性能、样品和探测条件限制，因此短波长提供可能性，并不单独保证每台装置达到相同细节尺度。

参考：[1] [4]

透射电镜分析电子通过薄样品后的信号，扫描电镜则把细电子束按位置扫过样品，并收集相应响应。两种方式强调不同的信息和制样条件，扫描透射等结构又结合部分特点。名称反映电子与样品怎样相互作用，而不只是外形尺寸的差别。

参考：[1] [3] [2]

扫描电子显微镜可收集二次电子、背散射电子等信号，分别突出表面形貌或成分差异等信息。同一位置采用不同信号形成的图像可能不同，亮暗也需要结合探测方式解释。真空、样品导电性和表面处理等条件，会影响哪些信息能够可靠取得。

参考：[2]

鲁斯卡对电子光学与电子显微镜设计的贡献获1986年诺贝尔物理学奖的一部分。现代装置还可结合电子能量损失与X射线能谱，研究局部成分、化学键和电子结构。显微图像与谱学证据相互补充，使外观上的细节进一步成为能够检验的材料信息。

参考：[1] [3]